热测试(二)——瞬态热测试与结构函数 1995年开始,JEDEC JESD51系列标准规格化电子部件的结温测试方法为ETM(电气法),规定2种瞬态热测试的方法(动态法,静态法),被广泛应用至今。2010年11月,JESD51-14追加了瞬态热阻的规格(推荐冷却测试法为标准方案)… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
热测试(二)——瞬态热测试与结构函数 1995年开始,JEDEC JESD51系列标准规格化电子部件的结温测试方法为ETM(电气法),规定2种瞬态热测试的方法(动态法,静态法),被广泛应用至今。2010年11月,JESD51-14追加了瞬态热阻的规格(推荐冷却测试法为标准方案)… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
作者: 热测试(二)——瞬态热测试与结构函数 1995年开始,JEDEC JESD51系列标准规格化电子部件的结温测试方法为ETM(电气法),规定2种瞬态热测试的方法(动态法,静态法),被广泛应用至今。2010年11月,JESD51-14追加了瞬态热阻的规格(推荐冷却测试法为标准方案)… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
热测试(二)——瞬态热测试与结构函数 1995年开始,JEDEC JESD51系列标准规格化电子部件的结温测试方法为ETM(电气法),规定2种瞬态热测试的方法(动态法,静态法),被广泛应用至今。2010年11月,JESD51-14追加了瞬态热阻的规格(推荐冷却测试法为标准方案)… 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论